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霍梅尔 – 艾达米克 T8000RC
粗糙度和轮廓组合测量系统
该组合测量系统的最大亮点是两个探测系统的智能化布置，所以组合测量非常完美。粗糙度和轮廓通过两个单独的探测系统测定。
粗糙度测头通过套筒定位，甚至是一些难以达到的测量位置。轮廓测头的更换简单，必要时轮廓测头和粗糙度测头可并行运行。
霍梅尔 – 艾达米克T8000RC测量仪一览
l 粗糙度测量和轮廓测量采用统一操作界面
l 能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征数据（90多个）
l 可评价几何项目，如距离、角度和半径
l 测量粗糙度、波纹度和轮廓度时的探测距离时120mm
l 在一个测量报告内评价粗糙度和轮廓特征数据
l 进给导轨的精度高，并配置了数字光栅尺，所以结果精确
l 稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动定位
技术亮点
l 粗糙度和轮廓通用测量系统
l 探测系统更换简单
l 在整个进给长度内部都可测量粗糙度
l 测头电动下降/抬起，所以测量流程自动
l 粗糙度测头既可以与上方的套筒连用，也可以安装在进给装置的下方
精密测量粗糙度，测头的选择范围大，可以满足不同的测量需求
技术参数
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型号 |
T8000 RC120 digital |
T8000 RC120 digiscan |
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探测系统 |
粗糙度测头 TKU 300/ 600 数字探测系统wavecontourTM digital |
粗糙度测头 TKU 300/ 600
wavecontourTM digital |
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测量范围 |
R：±300um or ±600um C：60mm |
R：±300um or ±600um
C：60mm/ 90mm |
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最小分辨率 |
R：1nm or 2nm C：50nm |
R：1nm or 2nm
C：50/756)nm |
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探测力 |
R：1.6mN C：0-20mN间可调 |
R：1.6mN
电子，±5至±50mN |
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探头臂识别 |
- |
R：- C：电子，RFID |
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探测力设定 |
R：- C：手动 |
R：- C：电子 |
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外/内探测 |
- |
选配 |
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测量行程限制 |
可通过程序设定 |
可通过程序设定 |
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测头臂 |
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长度（标准） |
R：34mm C：200mm |
R：34mm
C：200mm |
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探测头 |
R：5um/ 90° 硬质合金20um |
R：5um/ 90°
硬质合金20um |
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紧固方式 |
R：可更换 C：快递定位 |
R：可更换
C：快递定位 |
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进给 |
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测量范围
（探测距离） |
120mm |
120mm |
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分辨率 |
0.1um |
0.1um |
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测量速度 |
0.1-3mm/s |
0.1-3mm/s |
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定位速度 |
最大3mm/s |
最大3mm/s |
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直线导轨 |
≤0.4um/120mm |
≤0.4um/120mm |
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测量立柱 |
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行程 |
400mm |
400mm |
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自动找零功能 |
在Z-方向可通过程序设定 |
在Z-方向可通过程序设定 |
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运行速度 |
0.1-12mm/s |
0.1-12mm/s |
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重复定位精度 |
≤50um |
≤50um |
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测量位置 |
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硬岩石板
（长x宽x高） |
780x500x100 |
780x500x100 |