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霍梅尔粗糙度轮廓测量仪T8000 RC

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产品详细介绍

霍梅尔 艾达米克 T8000RC

粗糙度和轮廓组合测量系统

图片关键词

该组合测量系统的最大亮点是两个探测系统的智能化布置,所以组合测量非常完美。粗糙度和轮廓通过两个单独的探测系统测定。

粗糙度测头通过套筒定位,甚至是一些难以达到的测量位置。轮廓测头的更换简单,必要时轮廓测头和粗糙度测头可并行运行。

 

霍梅尔 艾达米克T8000RC测量仪一览

l  粗糙度测量和轮廓测量采用统一操作界面

l  能够计算所有常见的表面轮廓、粗糙度和波纹度特征数据(90多个)

l  可评价几何项目,如距离、角度和半径

l  测量粗糙度、波纹度和轮廓度时的探测距离时120mm

l  在一个测量报告内评价粗糙度和轮廓特征数据

l  进给导轨的精度高,并配置了数字光栅尺,所以结果精确

l  稳定和牢固的机动立柱保证了测头的自动定位

 

技术亮点

l  粗糙度和轮廓通用测量系统

l  探测系统更换简单

l  在整个进给长度内部都可测量粗糙度

l  测头电动下降/抬起,所以测量流程自动

l  粗糙度测头既可以与上方的套筒连用,也可以安装在进给装置的下方

 

wavecontourTM  digital轮廓探测系统,测量行程120mm,带数字探测系统

图片关键词

 

精密测量粗糙度,测头的选择范围大,可以满足不同的测量需求

图片关键词

 

技术参数

 

型号

T8000 RC120 digital

T8000 RC120 digiscan

探测系统

粗糙度测头 TKU 300/ 600

数字探测系统wavecontourTM digital

粗糙度测头 TKU 300/ 600

wavecontourTM digital

测量范围

R:±300um or ±600um

C60mm

R:±300um or ±600um

C60mm/ 90mm

最小分辨率

R1nm or 2nm

C50nm

R1nm or 2nm

C50/756)nm

探测力

R1.6mN

C0-20mN间可调

R1.6mN

电子,±5至±50mN

探头臂识别

-

R-  C:电子,RFID

探测力设定

R-  C:手动

R-  C:电子

/内探测

-

选配

测量行程限制

可通过程序设定

可通过程序设定

测头臂

 

 

长度(标准)

R34mm

C200mm

R34mm

C200mm

探测头

R5um/ 90°

硬质合金20um

R5um/ 90°

硬质合金20um

紧固方式

R:可更换

C:快递定位

R:可更换

C:快递定位

进给

 

 

测量范围

(探测距离)

120mm

120mm

分辨率

0.1um

0.1um

测量速度

0.1-3mm/s

0.1-3mm/s

定位速度

最大3mm/s

最大3mm/s

直线导轨

0.4um/120mm

0.4um/120mm

测量立柱

 

 

行程

400mm

400mm

自动找零功能

Z-方向可通过程序设定

Z-方向可通过程序设定

运行速度

0.1-12mm/s

0.1-12mm/s

重复定位精度

50um

50um

测量位置

 

 

硬岩石板

(长xx高)

780x500x100

780x500x100

 

地区分销
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