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三丰粗糙度仪SV3100

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产品详细介绍

Surftest SV-3100系列产品可进行高精度,高水平分析和多功能粗糙度测量

图片关键词

特点

  • Surftest SV-3100系列产品可进行高精度、高水平分析,多功能3D表面粗糙度分析,微细轮廓测量以及原有的表面粗糙度测量。
  • 自动调水平工作台、3轴调整台等外部设备的应用,有效增强了该产品的操作性能,同时也真正实现了自动测量。
  • 安装了数据分析软件FORMTRACEPAK。FORMTRACEPAK对从车间到实验室中得到的数据进行统一格式的管理。
  • 采用陶瓷制作的X轴驱动部导轨,因为陶瓷具有极好的防磨损性能,无需润滑油也能正常工作。
  • 为了保证高精度测量,在X轴和Y轴(选件)上都内置了高清晰度的玻璃尺(X轴分辨率:0.05um,Y轴分辨率:1um)保证SV-3100系列产品具有高度的可靠性,特别是对应水平粗糙度参数(S,Sm),X轴的分辨率就必须达到相当的水平。
  • 配有高精度测针
  • 配有多种功能,如“直线度补偿功能”,可确保X轴的线性精度;“圆度补偿功能”可保证测针的垂直移动;以及“针尖半径补偿功能”等。
  • 测针和测针导头都可轻松替换。可选测针和滑轨可适应各种粗糙度测量的需要,如小孔测量,深孔测量等。
  • 配备了易于操作的控制箱,与其主机分类,可进行开始/停止测量,返回以及远程进行其他操作。驱动部的上/下位置和X轴的移动都可手动进行微调。

技术参数

X轴

     测量范围:100mm

     分辨率:0.05um

     长度基准:线性编码器

     驱动速度:0-80mm/s

     测量速度:0.02-5mm/s

     倾斜范围:±45°

Z2轴(立柱)

     垂直移动:300mm或500mm,动力驱动

     分辨率:1um

     长度基准:ABSOLUTE线性编码器

     驱动速度:0-20mm/s

检测器

     范围/分辨率:800um/0.01um,80um/0.001um,8um/0.0001um(使用测头选件时,最大可达2400um)

     检测方法:无轨/有轨测量

     测力:4mN或0.75mN

     测针针尖:金刚石,90°/5umR(60°/2umR:低测力型)

     类型:差动电感式

基座尺寸(WxH):600*450

基座材料:花岗岩

 

评估能力:FORMTRACEPAK

使用标准:JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/VDA

评价参数:Ra, Rq, Sk, Ku, Rp, Rv, Ry, RyDIN, RzDIN, Rt, Rc, Rz, R3z,
               R3y, S, △a, △q, λa, λq, Lo, Ir, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2,
               A1, A2, Sm, Pc, HSC, mr, mrd,δc, Vo, Rx, AR, R, NR,
               NCRX, CPM, SR, SAR, Wx, AW, W, Wte, NW, SW, SAW

评估轮廓:基本曲线,粗糙度曲线,包络残余线,过滤波形曲线,带通波纹曲线,波纹度曲线,滚环波纹曲线,粗糙度motif

               波纹度motif DIN776曲线

分析图表:ADC,BAC1,BAC2,功率谱图,自相关图,倾斜分布图,局部峰值分布图,参数分布图

数据补偿功能:倾斜补偿,R平面(曲面)补偿,椭圆补偿,抛物线补偿,双曲线补偿,二次曲线自动补偿,多项式补偿,

                         多项式自动补偿

顾虑器:滤波类型2CR-75%,2CR-50%,2CR-75%(相位校正),2CR-50%(相位校正)

截止波长:λc: 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm任意波长

                 λs: 0.8, 2.5, 8, 25, 80, 250, 800μm 任意波长

               可在0.025至最大移动长度间指定任意长度

 

 

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