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三丰轮廓仪CV3200

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产品详细介绍

Contracer

高精度+高功能+高可操作性=轮廓测量仪

contracer(轮廓测量仪)CV-3200

图片关键词

 

特点

  • 大幅度提高了驱动速度(X1轴:80mm/s,Z2:30mm/s),进一步降低了总测量时间
  • 为了在一定时段内维持仪器的直线度规格,三丰公司采用了具有极佳的耐摩擦性及稳定性的高硬度陶瓷导轨
  • 大量的外围设备选件支持CNC模式,从而可以很容易实现CNC测量。
  • 驱动装置(X1轴)和立柱(Z2轴)中集成了高精度线性编码器(Z2轴为ABS型),从而提高了再垂直方向持续自动测量小孔和不易定位工件的重复精度。
  • 最新设计的测臂减少对工件的干扰和扩大了Z1轴(高度)方向的测量范围。
  • 一触式可安装无拆卸的测臂
  • X1轴精度:±(0.8+0.01L)um       Z1轴精度:±(1.6+I2HI/100)um,针对高精度工件的测量所设计(L为驱动长度,H为测量高度)

 

 

技术参数

X1 轴

    测量范围:100mm

    分辨率:0.05um

    检测方法:线性编码器

    驱动速度:0-80mm/s

    测量方向:向前/向后

    直线度:0.8um/100mm,以X1轴为水平方向上

    指示精度(20℃):±(0.8+0.01L)um,L为驱动长度

    倾斜范围:±45°

Z2轴(立柱)

    垂直移动:300mm或500mm

    分辨率:1um

    检测方法:ABSOLUTE线性编码器

    驱动速度:0-30mm/s外加手动

Z1轴(检出器)

    测量范围:±30mm

    分辨率:0.04um

    检测方法:线性编码器

    指示精度(20℃):±(1.6+I2HI/100)um,H未水平位置上的测量高度(mm)

    测针上/下运作:弧形运动

    测针方向:向上/向下

    测力:30mN

    跟踪角度:向上:77°,向下:83°(根据表面粗糙度,使用标准单切面测针)

测针针尖:半径:25um,硬质合金针尖

基座尺寸(WxH):600*450mm或1000*450mm

基座材料:花岗岩

 

组合校准规

      使用专用校准规,可同时进行设备的Z轴增益,对称及针尖半径的校准

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